Avantage是一款功能强大的XPS数据分析软件，具备数据采集、定量分析、元素鉴别、分峰拟合等多种功能，并支持数据导出至多种格式。文章提供了从下载安装包到完成安装的每一步骤，包括关闭杀毒软件、选择安装路径、同意协议、选择安装类型等。此外，还提供了切换软件语言至中文的方法。
本次小丑带来的是 XPS谱图分析软件Avantage 6.9.0中文完整版，以下是详细的安装教程，请务必按照步骤操作，否则可能导致安装失败
安装教程
1、下载解压压缩包，运行INSTALLATION Avantage v 6.9.0.59_4m3Nt0jO.exe
2、中间一直默认即可
3、安装中
4、安装完会重启电脑
5、电脑重启后，双击打开安装包中的“reg双击打开，修改注册表延长试用期Avantage 30days”（该文件每隔30天运行一次或每次使用前运行一次，即可长时间使用）；
6、双击打开软件，点击“确定”；
7、每30天运行一次reg
核心模块
▶ 模块 1：Instrument Control 「仪器控制 & 数据采集」（基础核心）
- 所有采集操作的入口，也是和 OMNIC 差异最大的模块（XPS 对硬件控制要求更高）
- 光源控制：切换单色化 Al Kα/Mg Kα 光源，调节功率、光斑大小，自动校准光源强度；
- 样品台控制：样品平移 / 旋转、真空腔控制、离子枪刻蚀参数（刻蚀速率、时间、区域）设置；
- 采集模式：①全谱扫描（Survey）：宽范围（0-1400 eV）定性，快速识别样品中所有元素；②窄谱扫描（High-Res）：针对单个元素的特征峰精细扫描，用于分峰拟合和定量；③深度剖析（Depth Profile）：离子枪刻蚀 + 循环采集，生成元素随刻蚀深度的分布曲线；④线扫 / 面扫（Mapping）：样品表面元素的空间分布成像，生成元素分布图。
- 采集参数：调节步长（Survey 用 1 eV，High-Res 用 0.1 eV）、扫描次数、通能（Pass Energy），6.9.0 支持参数模板保存，同类型样品一键调用，无需重复设置。
▶ 模块 2：Data Processing 「数据预处理」（高频使用）
▶ 模块 3：Analysis & Fitting 「定性 + 定量 + 分峰拟合」（核心核心，XPS 灵魂）
✔ 定性分析
✔ 定量分析
✔ 分峰拟合（高分辨窄谱核心）
▶ 模块 4：Report & Export 「图谱导出 + 报告生成」（论文刚需）
新手高频技巧（效率提升）
校准必做：所有谱图采集前，一定要用 C1s 284.8 eV 校准结合能，否则峰位偏移，定性定量全错；
模板复用：同类型样品的采集参数、拟合模板，保存为自定义模板，下次一键调用，节省大量时间；
拟合原则：分峰拟合时，先锁定峰位，再调半高宽，最后调峰面积，避免拟合过度，R²≥0.99 即可，无需追求完美；
深度剖析：刻蚀速率要先标定，避免深度计算误差，采集时设置「刻蚀 – 采集」循环，自动生成深度分布曲线；
谱图导出：论文用图优先导出EMF 矢量图，插入 Word/Origin 后无锯齿，分辨率拉满。
✔ 避坑指南（常见错误，6.9.0 已修复大部分，但仍需注意）
❌ 不要用「Linear 背景」处理有机样品：有机样品的背景用Shirley 背景，Linear 背景会导致峰面积积分偏小，定量结果偏低；
❌ 不要忽略杂峰：C 污染峰（284.8 eV）是 XPS 的通病，定量时可选择「排除 C 元素」，避免污染峰干扰其他元素的含量计算；
❌ 不要过度平滑谱图：平滑次数过多会导致峰形失真，半高宽变大，拟合结果不准，一般平滑 3-5 次即可；
❌ 不要混用灵敏度因子：不同元素的 SF 值是软件内置的，不要手动修改，否则定量结果偏差极大。
最低系统配置（流畅运行）
系统：Windows 10 64 位（推荐）/ Windows 11 64 位（兼容无 bug）
内存：≥16 GB（处理深度剖析的千级谱图需要大内存）
硬盘：≥50 GB 固态硬盘（软件安装 + 数据存储，机械硬盘会卡顿）
显卡：集成显卡即可，无需独立显卡
